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高低頻介電常數(shù)分析儀
- 產(chǎn)品型號(hào)：GCSTD-D
- 更新時(shí)間：2025-11-06
- 產(chǎn)品介紹：GCSTD-D高低頻介電常數(shù)分析儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質(zhì)）的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法
- 在線留言 010-57223836/57223838
產(chǎn)品介紹
半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
測(cè)試電橋參數(shù)
測(cè)試參數(shù) C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測(cè)試頻率 20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準(zhǔn)確度 0.1%
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C 0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
公司以精美的產(chǎn)品、精良的品質(zhì)、精心的服務(wù)贏得了廣大用戶和市場(chǎng)，擁有一大批國(guó)內(nèi)外科研院所及企業(yè)用戶。
服務(wù)：具有完備的售后服務(wù)體系
技術(shù)：自主研發(fā)+高校實(shí)驗(yàn)室聯(lián)合開發(fā)
品質(zhì)：對(duì)產(chǎn)品的精益追求+嚴(yán)格規(guī)范的測(cè)試
價(jià)格：科學(xué)的管理成本+高效率合作降低成本
客戶：大中院校+科研機(jī)構(gòu)+質(zhì)檢部門+實(shí)驗(yàn)室等
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)分析儀
四種信號(hào)源輸出阻抗
10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能
內(nèi)部自帶直流偏置源
外置偏流源至40A（配置兩臺(tái)TH1776）（選件）
電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整（ALC）功能
V、1測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
圖形掃描分析功能
20組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存／讀取
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)分析儀
